본문 바로가기
KERD
논문KCI 등재

Sn-Ag-Cu계 무연 솔더볼 접합부의 굽힘충격 시험방법 표준화

Standardization of Bending Impact Test Methods of Sn-Ag-Cu Lead Free Solder Ball

2

조회

0

다운로드

6

인용

0

참고문헌

키워드

주제분류재료공학

초록

본 연구에서는 무연솔더볼 접합부의 신뢰성평가를 위해 굽힘충격 시험법을 사용하였다. 시험 방법의 표준화를위하여 시험 시의 주파수, +/-진폭의 크기 등을 각각 변화하여 가면서 각 조건이 결과치에 미치는 영향을 분석하고 굽힘충격 시험을 위한 최적조건을 도출하였다. 굽힘충격 시험을 위한 최적조건은 주파수 10 Hz, 진폭은 (+12/-1)~(+15/-1)의범위이었다. 시험에 사용된 PCB 표면처리는 Cu-OSP(Organic Solderability Preservative)와 ENIG(Electroless Nickel Immersion Gold) 및 ENEPIG(Electroless Nickel, Electroless Palladium, Immersion Gold)의 3종류를 사용하였고, 솔더접합계면과 파단면을 관찰한 결과 Cu-OSP와 ENIG의 경우 금속간 화합물 층을 따라서 균열이 발생하여 파단이 일어났으나, ENEPIG의 경우에는 주로 솔더 영역에서만 균열이 생성되고 성장하였다.

Abstract

An impact bending test method was used to evaluate the reliability for the solder joint of lead-free solder ball. In order to standardize the test method, the four point impact bending test was applied under the conditions of various frequencies and amounts of +/-amplitude respectively. Effects on the results were analysed. The optimum condition for impact bending test achieved in this study was the frequency of 10 Hz, and the amplitude of (+12/-1)~(+15/-1). 3 kinds of surface finishes Cu-OSP (Organic Solderability Preservative), ENIG (Electroless Nickel Immersion Gold), and ENEPIG (Electroless Nickel, Electroless Palladium, Immersion Gold) were used. Fracture surface showed that cracks were initiated and fractured along the intermetallic layer in the case of surface finishes of Cu-OSP and ENIG, while in the case of ENEPIG the cracks were initiated and propagated in the solder region.

참고문헌 (14)

  1. R. Darveaux, "Reliability of area array solder joints in bending", SMTA International Proc. of the technical program, Rosemont, pp.313~324 (2000)
  2. T. Huang, "Reliability and failure analysis of CSP under bending cycle test", Microelectronics Reliability, 47(12), pp.2197~ (2007)
  3. 장임남, "리플로우 횟수와 표면처리에 따른 Sn-Ag-Cu계 무연 솔더 범프의 고속전단 특성평가", 마이크로전자 및 패키징학회지, 16(3), pp.11~17 (2009), 한국마이크로전자및패키징학회
  4. "JEDEC standard JESD22-B113", Board Level Cyclic Bend Test Method for Interconnect Reliability Characterization of Components for Handheld Electronic Products, ~ (2006)
  5. "MINITAB14 program", ~
  6. 서순근, "Weibull distribution, MINITAB 신뢰성분석", pp.52~54 (2002), (주)이레테크
  7. B. A. Robert, "Failure Distribution in The New Weibull Handbook", pp.3~15 (1976), RAC
  8. W. H. Zhu, "Drop reliability study of PBGA assemblies with SAC305, SAC105 and SAC105-Ni solder ball on Cu-OSP and ENIG surface finish", Proc. 58th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), pp.1667~1672 (2008)
  9. 이레테크 Minitab시험팀, "새Minitab 실무완 성(in Korean), 5", 483~489 (2004)
  10. B. G. Milad, "Surface Finishes in a Lead-Free World", J. circuit world, 34(4), pp.4~ (2008)
  11. 박용성, "다양한 조성의 Sn-Ag-Cu 합금계 무연 솔더볼과 ENIG(Electroless NiImmersion Gold), Cu-OSP(Oraganic Solderability Preservertive)금속 패드와의 계면 반응 연구", 마이크로전자 및 패키징학회지, 14(4), pp.27~36 (2007), 한국마이크로전자및패키징학회
  12. X. X. Lei, "Drop Test Failure Analysis of SAC BGA Solder Joints Using Ni", Au and Cu-OSP Pad Finish, 2006, ~
  13. M. George, "Getting the Lead Out of Surface Finishing", Metal Finishing, 104(1), pp.33~36 (2006)
  14. 구자명, "BGA 솔더 접합부의 기계적·전기적 특성에 미치는리플로우 횟수의 효과", 마이크로전자 및 패키징학회지, 14(4), pp.71~77 (2007), 한국마이크로전자및패키징학회

관련 논문AI추천

리플로우 횟수와 표면처리에 따른 Sn-Ag-Cu계 무연 솔더 범프의 고속전단 특성평가박재현, 안용식, 장임남한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2009 · 제16권 제3호PCB 표면처리에 따른 Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 무연솔더 접합부의 기계적 신뢰성에 관한 연구김성혁, 김재명, 박영배, 유세훈한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2012 · 제19권 제4호OSP•ENIG 표면 처리된 기판과 Sn-3.0Ag-0.5Cu 솔더 접합부의 낙하충격 신뢰성 평가김성진, 박재현, 윤정원, 이종범, 이준희, 정승부, 추용철, 하상수, 하상옥한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2009 · 제16권 제1호고속전단시험의 표준화를 위한 Sn3.0Ag0.5Cu 솔더볼의 전단특성이영곤, 정도현, 정재필한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2011 · 제18권 제1호Sn3.5Ag와 Sn0.7Cu 무연솔더에 대한 고온 진동 신뢰성 연구고용호, 김택수, 유세훈, 이영규, 이창우한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2012 · 제19권 제3호Electroless Nickel Autocatalytic Gold (ENAG) 표면처리와 Sn-Ag-Cu솔더 간 접합부의 계면반응 및 취성파괴 신뢰성 비교 연구권상현, 김민수, 방정환, 유세훈, 이태영, 전소연, 한덕곤한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2022 · 제29권 제3호

이 간행물의 다른 논문 (11건)