본문 바로가기
KERD
논문KCI 등재

금속패드가 Sn계 무연솔더의 저주기 피로저항성에 미치는 영향

Effects of Surface Finishes on the Low Cycle FatigueCharacteristics of Sn-based Pb-free Solder Joints

0

조회

0

다운로드

2

인용

0

참고문헌

키워드

주제분류재료공학

초록

플립칩 전자패키지에서 칩과 기판(PCB)를 연결할 때, 통상적으로 칩쪽은 금속패드/UBM 처리를 기판 쪽은 표면처리를 한 후 솔더로 연결하는데, 이 때 사용되는 UBM이나 표면처리에 따라, 칩/솔더,PCB/솔더에 생성되는 금속간 화합물의 종류와 두께 및 솔더의 조성이 변하게 되어 궁극적으로 솔더 접합부의 기계적 신뢰성에 영향을 주게 된다. 본 연구에서는 Cu와 Au/Ni의 두가지 금속 패드가 무연솔더의 저주기 피로특성에 어떠한 영향을 미치는 지에 대해 고찰해 보았다. 저주기 피로 실험은 Cu나 Au/Ni이 표면처리 된 기판에 무연솔더(Sn-3.5Ag, Sn-3.5Ag-1.5Cu, Sn-3.5Ag-XBi(X=2.5, 7.5), Sn-0.7Cu)를 리플로하여 총변위를 변화시키면서 상온에서 시행하였다. 기판의 표면처리에 관계없이 Sn-3.5Ag, Sn-3.5Ag-XCu(X-0.75, 1.5), Sn-0.7Cu 합금이 Sn-3.5Ag-7.5Bi 합금보다 피로저항성이 현격히 , Au/Ni 표면처리한 솔더 접합부가 Cu 처리한 경우보다 피로저항성이 뛰어난 것으로 나타났다. 파괴 후 단면을 조사한 결과 계면에 형성된 금속간 화합물 내에 미세균열이 발견되었은데, Cu 표면처리를 사용한 경우 더 많은 미세균열이 생성된 것을 볼 수 있었다. Sn-3.5Ag, Sn-3.5Ag-Cu(X=0.75, 1.5), Sn-0.7Cu 합금의 경우 금속간 화합물 내에 생기는 미세 균열이 거시 균열로 성장하지 않고 파단은 항상 솔더 내부로 일어난 반면, Bi를 함유한 솔더의 경우, 기판의 표면처리에 상관없이 금속간 화합물/솔더 계면으로 균열이 생성 진전되어 다른 솔더합금에 비해 열악한 피로저항성을 나타내는 것으로 보인다. 이것은 Bi의 금속간화합물/솔더 입계 편석이나 Bi 다른 합금에 비해 높은 경도값을 가지는 것에 인한 것으로 보여 진다.

Abstract

Surface finishes of PCB laminates are important in the solder joint reliability of flip chippackage because the types and thickneses of intermetalic compound(IMC), and compositions andhardnes of solders are affected by them. In this study, effects of surface finishes of PCB on the low cyclefatigue resistance of Sn-based lead-fre solders; Sn-3.5Ag, Sn-3.5Ag-XCu(X=0.75, 1.5), Sn-3.5Ag-XBi(X=2.5, 7.5) and Sn-0.7Cu were investigated for the Cu and Au/Ni surface finish treatments.Displacement controlled room temperature lap shear fatigue tests showed that fatigue resistance of Sn-3.5Ag-XCu(X=0.75, 1.5), Sn-3.5Ag and Sn-0.7Cu alloys were more or les the same each other but muchbetter than that of Bi containing alloys regardless of the surface finish layer used. In general, solder jointson the Au/Ni finish showed better fatigue resistance than those on the Cu finish. Cross-sectionalfractography revealed microcracks nucleation inside of the interfacial IMC near the solder mask edge,more frequently on the Cu than the Au/Ni surface finish. Macro cracks followed the solder/IMC interfacein the Bi containing alloys, while they propagated in the solder matrix in other alloys. It was ascribedto the Bi segregation at the solder/IMC interface and the solid solution hardening effect of Bi in the β-Sn matrix.

관련 논문AI추천

리플로우 솔더링 공정 조건에 따른 Sn-Bi-Ag와 Sn-Ag-Cu 복합 무연 솔더 접합부 특성 연구고용호, 김동진, 김자현, 박영배, 천경영한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2022 · 제29권 제3호PCB 표면처리에 따른 Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 무연솔더 접합부의 기계적 신뢰성에 관한 연구김성혁, 김재명, 박영배, 유세훈한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2012 · 제19권 제4호Sn-Ag-Cu-In-(Mn, Pd) 무연솔더의 솔더링성과 BGA 접합부 신뢰성김준기, 유아미, 이종현, 이창우, 장재원한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2013 · 제20권 제3호BGA 솔더 접합부의 기계적·전기적 특성에 미치는리플로우 횟수의 효과구자명, 이창용, 정승부한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2007 · 제14권 제4호시효 처리에 의한 42Sn-58Bi 솔더와 무전해 Ni-P/치환 Au UBM간의 계면 반응김태규, 부성운, 이혁모, 조문기한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2005 · 제12권 제2호PCB 표면처리에 따른 Sn-3.0Ag-0.5Cu 무연솔더 접합부의 in-situ 금속간 화합물 성장 및 Electromigration 특성 분석김성혁, 김재명, 박규태, 박영배, 유세훈, 이병록한국마이크로전자및패키징학회 · 마이크로전자 및 패키징학회지2015 · 제22권 제2호

이 간행물의 다른 논문 (10건)