본문 바로가기
KERD
논문KCI 등재

저전압급 ESD 보호를 위한 LRSCR 기반 Self-bias SCR에 관한 연구

A Study on Self-bias SCR Based on LRSCR for Low Voltage Class ESD Protection

0

조회

0

다운로드

0

인용

0

참고문헌

키워드

초록

본 논문에서는 기존의 ESD 보호소자보다 Self-bias를 통하여 전류구동 능력을 향상시킨 ESD 보호소자를 제안하였다. 새로운 제안 구조는 LRSCR구조 기반이며 N+ 확산 영역을 추가하였으며 게이트와 P+ 확산영역을 연결하여 저항을 감소시킨다. 그 결과, 제안된 ESD 보호소자는 11.8V의 트리거 전압과 5.9V의 홀딩 전압을 나타내는 것으로 확인되었다. 저전압용 5V 애플리케이션에 사용될 수 있으며 우수한 전류구동능력을 가지고있을 것으로 기대된다.

Abstract

This paper proposed an ESD protection device that improved the current driving ability through Self-bias thanthe existing ESD protection device. The new proposed structure is based on the LRSCR structure and adds an N+diffusion region, and reduces resistance by connecting the gate and the P+ diffusion region. As a result, it wasconfirmed that the proposed ESD protection device exhibits a trigger voltage of 11.8V and a holding voltage of5.9V. It can be used in 5V applications for low voltage and is expected to have excellent current driving capability

참고문헌 (6)

  1. M. Ker, "Investigation and design of on-chip power-rail ESD clamp circuits without suffering latchup-like failure during system-level ESD test", IEEE J. Solid-State Circuits, 43(11), pp.2533~2545 (2008)[DOI]
  2. Y. Koo, "Design of SCR-based ESD protection device for power clamp using deep-submicron CMOS technology", J. Microelectron, 40(6), pp.1007~1012 (2009)[DOI]
  3. C. Lin, "Design of ESD protection device for K", Ka-band applications in nanoscale CMOS process, 2015, pp.62(9), 2824~2829
  4. O. Semenov, "ESD protection design for advanced CMOS", Proc. SPIE, pp.123~131 (2001)
  5. B. Song, "SCR-Based ESD Protection Using a Penta-Well for 5V Applications", IEEE Journal of the Electron Devices Society, 6, pp.691~695 (2018)[DOI]
  6. O. Quittard, "ESD protection for high-voltage CMOS technologies", Proc. EOS, 2006, 77~86

관련 논문AI추천

이 간행물의 다른 논문 (16건)