투과전자현미경을 이용한 SmZn0.67Sb2의 3차원적 구조 분석
Three-dimensional Structure Analysis of SmZn0.67Sb2 by Transmission Electron Microscopy
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초록
무기결정질인 SmZn0.67Sb2의 3차원적 구조(공간군 P4/nmm, a = 4.26Å, c = 10.37Å)를 전자결정학을 이용하여 분석하였다. 3차원적 정보를 얻기 위해서 주요 정대축인 세 방향의 고분해능 이미지의 정보와 16개의 정대축 방향의 회절도형을 조합하였다. 고분해능 이미지의 결정학적 화상처리(CIP)를 결정구조의 보다 정확한 분석을 위하여 사용하였다. 전자결정학을 이용한 분석 결과, [001], [100], [110] 방향에 대한 고분해능 이미지의 φres는 각각 17.0o, 8.3o, 21.9o를 나타내었다. 전자결정학을 이용한 구조 분석 결과에 대한 정확도를 비교하기 위하여 X-ray 회절 분석을 시도하였다. SmZn0.67Sb2의 X-ray 구조 분석 결과, a = 4.276Å, c = 10.287Å이고 신뢰도(Rsym)는 4.16%이었다.
Abstract
The three-dimensional (3D) structure of an inorganic crystal, SmZn0.67Sb2 (space group P4/nmm, a = 4.26Å and c = 10.37Å) was solved by electron crystallography. High resolution electron microscopy (HREM) images from 3 different major zone axes and selected-area electron diffraction patterns from 16 different zone axes were combined to obtain a 3D information. A crystallographic image processing (CIP) of HREM images was used for more accurate determination of the crystal structure. As a result of this electron crystallography, average phase errors (φres) of [001], [100] and [110] HREM images are 17.0o, 8.3o and 21.9o, respectively. X-ray crystallography of SmZn0.67Sb2 has attempted to compare accuracy of the structure determination by electron crystallography, which resulted in the cell parameters of a = 4.2976(6)Å and c = 10.287(2)Å, and the R-factor (Rsym) of 4.16%.
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