논문KCI 미등재
TEM 관련 이론해설(4): 방사선의 종류와 물질에 의한 산란
Radiations And Their Scattering by Matter
1
조회
0
다운로드
0
인용
0
참고문헌
주제분류자연과학일반
초록
물질의 구조 특성파악에 많이 사용되는 X-선과 전자선에 대한 소스 원을 살펴보고 물질과의 반응을 atomic scattering factor의 항으로 설명하였다. 물질과의 회절을 역 격자 공간에서의 Ewald sphere로 설명하고 유한 크기의 소스 파장과 검출기의 효과도 함께 고려하였다.
Abstract
In this review, the sources and the characteristics of X-rays and electrons and their interactions with matters were described in terms of the atomic scattering factors. The geometrical diffraction conditions were taken into account in terms of Ewald spheres in reciprocal lattice spaces. The effects of the finite size of sources and detectors on diffractions were also considered.
관련 논문AI추천
TEM 관련 이론해설 (5): 원자집합체의 산란이확주한국현미경학회 · Applied Microscopy2004 · 제34권 제4호TEM 관련 이론해설(3): 영상 형성이론과 회절이론이확주한국현미경학회 · Applied Microscopy2003 · 제33권 제3호TEM 관련 이론해설 (6): 투과전자현미경의 고분해능영상이론: 결맞음 (1)이확주한국현미경학회 · Applied Microscopy2005 · 제35권 제3호TEM 관련 이론해설(1): 프레넬 회절과 프라운호퍼 회절이확주한국현미경학회 · Applied Microscopy2002 · 제32권 제2호TEM 관련 이론해설(7): 투과전자현미경의 고분해능 영상이론: 결맞음(2)이확주한국현미경학회 · Applied Microscopy2006 · 제36권 제1호전자 빔 조사 민감 물질의 전자회절분석을 위한 Imaging Plate 기술김양수, 김영민, 김윤중, 김진규, 이정용한국현미경학회 · Applied Microscopy2008 · 제38권 제3호