본문 바로가기
KERD
논문KCI 등재

Mo-Ti 합금 접착층을 통한 유연 기판 위 구리 배선의 기계적 신뢰성 향상 연구

Bending Fatigue Reliability Improvements of Cu Interconnects on Flexible Substrates through Mo-Ti Alloy Adhesion Layer

0

조회

0

다운로드

0

인용

0

참고문헌

키워드

주제분류재료공학

초록

유연 기판에 증착된 구리 박막과 구리 배선의 기계적 피로 현상에 대해 조사하고, 몰리브덴-티타늄 합금 접착층을 이용해 피로 신뢰성을 향상시키는 연구를 진행하였다. 구리 배선의 경우 구리 박막에 비해 인장 굽힘 피로수명이 약3배, 압축 굽힘 피로수명은 약 6배 가량 감소하는 것으로 측정되었으며, 기계적 균열 생성에 의한 파괴가 더욱 치명적으로 작용할 수 있다. 몰리브덴-티타늄 접착층이 있을 경우, 구리 배선의 피로수명이 인장과 압축 굽힘 조건 모두 향상되는결과를 나타냈으며, 이는 접착층에 의한 계면 접착력 상승 효과와 더불어 구리층의 미끄럼 현상을 억제했기 때문으로 추측된다.

Abstract

Bending fatigue characteristics of Cu films and 8 μm width Cu interconnects on flexible substrates wereinvestigated, and fatigue reliability improvement was achieved through Mo-Ti alloy adhesion layer. Tensile bending fatiguereliability of Cu interconnects is 3 times lower than that of Cu films, and even compressive bending fatigue reliabilityof Cu interconnects is 6 times lower than that of Cu films. From these results, mechanical crack formation could be fatalin Cu interconnects. With Mo-Ti adhesion layer, fatigue reliability of Cu films and interconnects were enhanced due tothe increase of adhesion strength and the suppression of slip induced crack initiation.

참고문헌 (21)

  1. D.-H. Kim, "Epidermal Electronics", Science, 333(6044), pp.838~ (2011)
  2. T. Sekitani, "Stretchable Organic Integrated Circuits for Large-area Electronic Skin Surfaces", MRS Bulletin, 37(3), pp.236~ (2012)
  3. H. Fujikake, "Polymer-stabilized Ferroelectric Liquid Crystal for Flexible Displays", Displays, 25(1), pp.3~ (2004)
  4. A. K. Pandey, "Efficient Flexible and Thermally Stable Pentacene", C60 Small Molecule Based Organic Solar Cells, 2006, pp.89(21), 213506~
  5. 김주현, "유연전자소자를 위한 차세대 유연 투명전극의 개발 동향", 마이크로전자 및 패키징학회지, 20(2), pp.1~11 (2014), 한국마이크로전자및패키징학회[DOI]
  6. O. Kraft, "Fatigue in Thin Films: Lifetime and Damage Formation", Mater. Sci. Eng. A, 319-321, pp.919~ (2001)
  7. Y. Xiang, "High Ductility of a Metal Film Adherent on a Polymer Substrate", Appl. Phys. Lett, 87(16), pp.161910~ (2005)
  8. R. M. Niu, "Thickness Dependent Critical Strain in Submicron Cu Films Adherent to Polymer Substrate", Appl. Phys. Lett, 90(16), pp.161907~ (2007)
  9. B.-J. Kim, "Crack Nucleation during Mechanical Fatigue in Thin Metal Films on Flexible Substrates", Acta Mater, 61(9), pp.3473~ (2013)
  10. B.-J. Kim, "Fatiguefree, Electrically Reliable Copper Electrode with Nanohole Array", Small, 8(14), pp.3300~ (2012)
  11. 최영준, "Electrical Properties of Metal Film with Micro-Holes on a Polymer Substrate: Applications for Flexible Electronic Devices", Electronic Materials Letters, 5(4), pp.191~194 (2009), 대한금속·재료학회
  12. 김병준, "유연성 소자용 금속 전극의 신뢰성 연구 동향", 마이크로전자 및 패키징학회지, 20(4), pp.1~6 (2013), 한국마이크로전자및패키징학회[DOI]
  13. P. Gudmundson, "Stresses in Thin Films and Interconnect Lines", Microelectron. Eng, 60(1-2), pp.17~ (2002)
  14. J. Cho, "Grain Size Dependence of Electromigration- induced Failures in Narrow Interconnects", Appl. Phys. Lett, 54(25), pp.2577~ (1989)
  15. J.-S. Lim, "U.S. patent 8,456,601 B2 (4 June 2013)", ~ (2013)
  16. J. W. McPherson, "Reliability Physics and Engineering: Timeto- failure modeling", pp.64~ (2010), Springer
  17. G. S. Chang, "Mechanism for Interfacial Adhesion Strength of an Ion Beam Mixed Cu", Polyimide with a Thin Buffer Layer, 1999, pp.74(4), 522~
  18. H. Mei, "Buckling Modes of Elastic Thin Films on Elastic Substrates", Appl. Phys. Lett, 90(15), pp.151902~ (2007)
  19. F. S. Ohuchi, "Metal Polyimide Interface: A Titanium Reaction Mechanism", J. Vac. Sci. Tech. A, 4(3), pp.1039~ (1986)
  20. Z. Suo, "Micromechanics of Macroelectronics", China Particuology, 3(6), pp.321~ (2005)
  21. L. Nicola, "Plastic Deformation of Freestanding Thin Films: Experiments and Modeling", J. Mechanics and Phys. Solids, 54(10), pp.2089~ (2006)

관련 논문AI추천

이 간행물의 다른 논문 (11건)