비차폐실에서의 전도성 방해 측정 방법 연구
Study on Measurement Method of Conducted Disturbance in Unshielded room
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초록
최신 전자기기의 발전으로 인해 전자파 장해(EMI, Electromagnetic Interference)는 점점 더 중요해지고 있으며, 디바이스는 고밀도 회로 설계와 고속 신호 전송을 포함하여 다양한 주파수 대역에서 동시에 작동하기때문에 복잡한 EMI 문제에 직면하고 있다. EMI 측정은 보통 차폐된 공간에서 외부 전자기 간섭을 차단하여수행되지만, 이는 비용이 많이 들기 때문에 중소기업, 학교 등에서는 제한되는 경우가 많다. 본 연구는 차폐되지 않은 환경에서 EMI 시험 중 전도성 방해(Conducted Disturbance) 시험을 수행하고, 이를 차폐실에서의 측정값과 비교하여 비차폐실에서의 시험의 유효성을 평가하고자 한다. 이를 통해 차폐실을 사용하지 않고도 신뢰성 있는 전도성 방해 시험을 수행할 수 있는 방안을 제시함으로써, 비용을 절감하며경쟁력을 강화할 수 있는 새로운 접근법을 모색하는 데 기여하고자 한다.
Abstract
Electromagnetic interference (EMI) is becoming increasingly important due to advances in modern electronics, and devices face complex EMI challenges as they operate simultaneously in multiple frequency bands, including dense circuit designs and high-speed signal transmission. EMI measurements are typically performed in a shielded room to isolate external electromagnetic interference, but this is expensive and often limited for small and medium-sized enterprises, schools, and others. This study aims to evaluate the validity of EMI testing in an unshielded environment by performing Conducted Disturbance tests during EMI testing and comparing them to measurements in a shielded room. In doing so, we hope to contribute to the search for new approaches to reduce costs and increase competitiveness by showing how reliable conducted disturbance tests can be performed without the use of shielded rooms.