재겨냥성 C 컴파일러를 위한 테스트 집합 생성 시스템
Test Suit Generation System for Retargetable C Compilers
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초록
임베디드 프로세서 사용이 증가함에 따라 임베디드 프로세서를 위한 컴파일러를 시기 적절히 개발해야 할 필요성이 증가하고 있다. 컴파일러 후단부를 수정하여 새로운 컴파일러를 구성하는 재겨냥 기법이 이에 적합한 기법으로 채택되고 있다. 이 논문에서는 재겨냥성 C 컴파일러를 테스트하기 위한 테스트 집합 생성 시스템을 제안한다. 제안한 시스템은 문법 커버리지 개념을 이용하여 테스트 집합을 생성한다. 일반적으로 원시 프로그래밍 언어의 문법을 이용하여 테스트 집합을 생성하면 방대한 크기의 테스트 집합이 얻어진다. 그러나 신속히 컴파일러를 출시해야 하는 상황에서는 방대한 테스트 집합 크기가 문제가 될 수 있다. 이에 이 논문에서 제안한 시스템은 중간 코드를 고려하여 테스트 집합을 축약하는 기능을 탑재하고 있다. 실험 결과에 따르면, 비록 축약된 테스트 집합 크기는 원본 테스트 집합 크기의 평균 10%에 불과하지만 원본 테스트 집합이 검출할 수 있는 컴파일러 오류의 75% 정도를 검출할 수 있음을 알 수 있었다. 이는 본 논문에서 제시한 축약 기법이 임베디드 컴파일러 개발 초기 단계에서 효과적으로 사용될 수 있음을 의미한다.
Abstract
With the increasing adoption of embedded processors, the need of developing compilers for the embedded processors with timely manner is also growing. Retargeting has been adopted as a viable approach to constructing new compilers by modifying the back-end of an existing compiler. This paper proposes a test suite generation system for testing retargetable C compilers. The proposed system generates the test suite using the grammar coverage concept. Generally, the size of the test suite satisfying the grammar coverage of the source language is very large. Hence, the proposed system also provides the facility to reduce the size of the test suite. According to the experimental result, the reduced test suite can detect 75% of the compiler faults detected by the original test suite though the size of the reduced test suite is only 10% of that of the original test suite in average. This result indicates that the reduction technique proposed in this paper can be effectively used in the prior phase of the development procedure of the embedded compilers.
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